|
Á¦¸ñ |
|
¿øÀÚ Çö¹Ì°æ(AFM: Atomic Force Microscope)Àº ´«À¸·Î º¼ ¼ö ¾ø´Â ³ª³ë ¼¼°è¸¦ ¾ÆÁÖ ¹Ì¼¼ÇÑ ÆÁÀ» »ç¿ëÇÏ¿© ¹°Ã¼ Ç¥¸éÀÇ Çü»ó, ´Ü´ÜÇÑ Á¤µµ, Àü±â, ÀÚ±âÀû Ư¼ºÀ» ÃøÁ¤ÇÒ ¼ö ÀÖ´Â °èÃø±â·Î ¸Ó¸®Ä«¶ôÀÇ ±½±â¡¦ |
|
SSM ¹æ¹ýÀ» À§Çؼ´Â ¸Å¿ì Ư¼öÇÑ Å½Ä§ÀÌ ÇÊ¿äÇÏ´Ù. ¿Àü °è¼ö¸¦ ÃøÁ¤ÇϰíÀÚ ÇÏ´Â ´ë»óÀº ´ëºÎºÐÀÌ ¹ÝµµÃ¼¹°ÁúÀε¥ °¡Àå ³Î¸® »ç¿ëµÇ´Â ½Ç¸®ÄÜÀ» ºñ·ÔÇÑ ¿©·¯ ¹ÝµµÃ¼ ¹°ÁúÀº °ø±âÁß¿¡¼ Ç¥¸éÀÌ ¸Å¿ì ¾ã°Ô ¡¦ |
|
1990³â CahillÀÌ ¹ßÇ¥ÇÑ 3¥ø method´Â ¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤¿¡¼ ¾²ÀÌ´Â À¯Àüü(Dielectric solids)ÀÇ ¿Àüµµµµ¸¦ °èÃøÇÒ ¼ö ÀÖ´Â ½ÇÇè±â¹ýÀÌ´Ù. ¸ÕÀú fig. 1(a)¿¡ ³ª¿ÍÀÖ´Â ±×¸²Ã³·³ °èÃøÇϰíÀÚ ÇÏ´Â »ùÇà À§¿¡ È÷¡¦ |
|
º» ¿¬±¸ÁøÀº ÇöÀç ¼¼°è ÃÖ°í ¼öÁØÀÇ °¡Àå ³ôÀº °ø°£ Á¤¹Ðµµ(¿Âµµ-50 nm, ¿Àüµµµµ-150nm)·Î ¿Âµµ¿Í ¿Àüµµµµ¸¦ Á¤·®ÀûÀ¸·Î °èÃø ÇÒ ¼ö ÀÖ´Â °í¼º´É ÁÖ»çŽħ¿Çö¹Ì°æ Žħ°ú Á¤·®Àû °èÃø ±â¹ýÀÎ ÀÌÁßÁֻ硦 |
|
³ª³ë¿ÀüÀç·á´Â ÃʰÝÀÚ(superlattice)³ª ¾çÀÚÁ¡(Quantum dot), ³ª³ë¼±(Nanowire)µîÀÇ ±¸Á¶·Î ÀϹÝÀûÀÎ ¹úÅ© »óÅÂÀÇ ¹°Áúº¸´Ù ÈξÀ ³ôÀº È¿À²À» °®°Ô µÇ¾î ÃÖ±Ù °¡Àå °¢±¤¹Þ´Â ¿¬±¸ ºÐ¾ß Áß ÇϳªÀÌ´Ù. ÀÚ¿¬¡¦ |
|