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특허정보

6

권오명,김경태
'반도체 소자내의 불순물 농도 분포 측정시스템 및 측정방법'
Korea (application number: 10-0663317, 06.12.22)

5

권오명
'반도체의 불순물농도 측정장치 및 측정방법'
Korea (application number: 10-2006-0019780, 06.03.02)

4

권오명
'점가열 점측정에 의한 국소 열물성 측정장치 및 측정방법'
Korea (application number: 10-2005-0116008, 05.11.30)

3

권오명, 이준식, 최영기, 박승호, 정원석
'교류 방식 유속 측정 장치 및 이에 사용되는 유속 데이터 맵핑 방법'
Korea (application number: 10-0513102, 05.06.02)

2

O. M. Kwon, A. Majumdar, Perazzo, Mao, Zhao, Wu
'Apparatus and method for visually identifying micro-forces with a palette of cantilever array blocks'
U.S.A (application number: 7,105,358 B2, 06.09.12)

1

O. M. Kwon, J. S. Lee, S. H. Park, Y. K. Choi, W. S. Jung
'AC Type Flowmeter and Method of Mapping Flow Rate Data for the Same'
U.S.A (application number: 7007549, 06.03.07)