°í·Á´ëÇб³ MEMS & Nano Engineering Lab

·Î±×ÀΠȸ¿ø°¡ÀÔ ID/PW ã±â »çÀÌÆ®¸Ê

 

 

 

Home > Board > Notice

 
 
³ª³ë¿¡³ÊÁö Àü´Þ ¹× º¯È¯ ¿¬±¸½Ç¿¡¼­ ±Ù¸é, ¼º½ÇÇÑ ´ëÇпø»ý ¹× Çкבּ¸»ýÀ» ¸ðÁýÇÕ´Ï´Ù
±Û¾´ÀÌ : Master ³¯Â¥ : 2014-12-10 (¼ö) 16:05 Á¶È¸ : 2288
Welcome to Nano energy transport & conversion lab

³ª³ë¿¡³ÊÁö Àü´Þ ¹× º¯È¯ ¿¬±¸½Ç¿¡¼­
±Ù¸é, ¼º½ÇÇÑ ´ëÇпø»ý ¹× Çкבּ¸»ýÀ» ¸ðÁýÇÕ´Ï´Ù.

¢Â ±â°è°øÇÐ, Àü±âÀüÀÚ, ½Å¼ÒÀç°øÇÐ µî ´Ù¾çÇÑ ÇÐÀ§ ÃëµæÀÚ
¢Â ´õ ¸¹Àº Á¤º¸¸¦ ¿øÇÑ´Ù¸é ¹øÈ£ 02-3290-3855 ·Î ¹®ÀÇ ¹Ù¶÷

¥°. ¿¬±¸ ºÐ¾ß
     ¡á  ³ª³ë ½ºÄÉÀÏ¿¡¼­ÀÇ ¹°¼º °ÔÃø µµ±¸/±â¹ý »ó¿ë °³¹ß ¿¬±¸
     ¡á  ³ª³ë ¼ÒÀç/¼ÒÀÚ ³»ºÎ¿¡¼­ÀÇ ¿¡³ÊÁö Àü´Þ/º¯È¯ Çö»ó ÃøÁ¤
     ¡á  °íÈ¿À², °í¼º´É ¼ÒÀç/¼ÒÀÚ °³¹ß ¹× °ü·Ã ¹°¼º Á¦¾î¿¡ ±â¿©

¥±. Áö¿ø ÀåÇбÝ
     ¡á  ¹Ú»ç °úÁ¤ : ¿ù 200¸¸¿ø Áö¿ø
     ¡á  ¼®»ç °úÁ¤ : ¿ù 150¸¸¿ø Áö¿ø
     ¡á  ÇкΠ¿¬±¸»ý : ¿ù 50¸¸¿ø Áö¿ø


¥². ÀüÇü ¹× Á¢¼ö ¹æ¹ý
     ¡á  1Â÷ ¼­·ùÀüÇü
     ¡á  2Â÷ ¸éÁ¢(¼­·ù ÇÕ°ÝÀÚ¸¸ °³º°Å뺸)
     ¡á  E-mail Á¢¼ö /
omkwon@korea.ac.kr (»ó½Ã¸ðÁý)

¥³. Á¦Ãâ ¼­·ù
     ¡á  À̷¼­, ÀÚ±â¼Ò°³¼­, ¼ºÀûÁõ¸í¼­ °¢ 1ºÎ (ÀÚÀ¯¾ç½Ä)
[ÀÌ °Ô½Ã¹°Àº Master´Ô¿¡ ÀÇÇØ 2015-07-14 14:18:20 Notice¿¡¼­ À̵¿ µÊ] [ÀÌ °Ô½Ã¹°Àº Master´Ô¿¡ ÀÇÇØ 2015-07-14 14:19:05 »ó¿ëÈ­¿¬±¸¿¡¼­ À̵¿ µÊ]

 

°Ô½Ã¹° 6°Ç
¹øÈ£ Á¦¸ñ ±Û¾´ÀÌ ³¯Â¥ Á¶È¸
2012³â, º» ¿¬±¸½ÇÀÇ "Quantitative temperature profiling through null-point scanning thermal microscopy" ³í¹®ÀÌInternational journal of thermal sc¡¦
Master 11-16 1397
2012³â Nano letters Àú³Î¿¡ º» ¿¬±¸½ÇÀÇ ³í¹® - Quantitative Thermopower Profiling across a Silicon p–n Junction with Nanomete¡¦
Master 11-16 1284
6
Welcome to Nano energy transport & conversion lab³ª³ë¿¡³ÊÁö Àü´Þ ¹× º¯È¯ ¿¬±¸½Ç¿¡¼­ ±Ù¸é, ¼º½ÇÇÑ ´ëÇпø»ý ¹× Çкבּ¸»ýÀ» ¸ðÁýÇÕ´Ï´Ù.¢Â ±â°è°øÇÐ, ¡¦
Master 12-10 2289
5
±è°æÅ ¹Ú»ç°¡ ÇØ¿Ü ¹Ú»çÈÄ°úÁ¤(University of Michigan)À» ¸¶Ä¡°í¿ÃÇØ ÀÎõ´ëÇб³ ±â°è°øÇаú ±³¼öÁ÷¿¡ ÃëÀÓÇÏ¿´½À´Ï´Ù.
Master 01-30 1838
4
2012³â, º» ¿¬±¸½ÇÀÇ "Quantitative temperature profiling through null-point scanning thermal microscopy" ³í¹®ÀÌInternational journal of thermal sc¡¦
Master 11-16 1397
3
2012³â Nano letters Àú³Î¿¡ º» ¿¬±¸½ÇÀÇ ³í¹® - Quantitative Thermopower Profiling across a Silicon p–n Junction with Nanomete¡¦
Master 11-16 1284
2
º» ¿¬±¸ÁøÀº 2011³â¿¡ ¿¬°£ 2¾ï¿ø ±Ô¸ðÀÇ ¿øõ±â¼ú°³¹ß»ç¾÷¿¡ ¼±Á¤µÇ¾ú½À´Ï´Ù.°úÁ¦¸íÀº ³ª³ë±¸Á¶¹°À» ÅëÇÑ Æ÷³í Á¦¾î ±â¹Ý °íÈ¿À² ¿­Àü ¼ÒÀç ÇÕ¼º¿¬±¸ ÀÔ´Ï´Ù.
Master 11-09 1012
1
2011³â ACS Nano Àú³Î¿¡ º» ¿¬±¸½ÇÀÇ ³í¹® -Quantitative measurement with scanning thermal microscopy by preventing the distortion due to the heat t¡¦
Master 10-23 934